En algunos casos, EXFILES ha permitido reducir el tiempo de análisis en comparación con los procedimientos anteriores; en otros, “ha permitido recuperar información que era inaccesible con los métodos existentes, especialmente en los teléfonos más modernos”, explicó Salvador Hidalgo, investigador principal del IMB en el proyecto.

Los procedimientos desarrollados en el proyecto facilitarán los trabajos de análisis forense de los dispositivos 'smartphone', lo que permite el acceso a una información que puede ser relevante para resolver casos policiales, lo que redunda en un incremento de la seguridad. Los casos en los que se ha aplicado han sido cerrados con éxito y son confidenciales, explicó el CSIC.

“El uso colaborativo de herramientas de 'software' y 'hardware' llevó a la definición de 21 escenarios de análisis sobre seis modelos de teléfonos distintos. Como resultado directo, se logró acceder a unos 400 dispositivos pertenecientes a casos reales. La combinación de las herramientas desarrolladas, junto a métodos de Ataque por Canal Lateral (SCA, Side-Channel Attack) y de Inyección de Fallos (FI, Fault Injection) en Sistemas Integrados en Chips (SoC, System on Chip), han sido las innovaciones más importantes”, agregó Jofre Pallarès, investigador del IMB.

Las técnicas mencionadas son ampliamente utilizadas en el análisis de dispositivos electrónicos. El método de Ataque por Canal Lateral se basa en el análisis de las señales que un sistema electrónico genera durante su funcionamiento y que pueden ser utilizadas para acceder a la información con la que trabaja. Por otra parte, la Inyección de Fallos persigue llevar a un chip (circuito integrado) a trabajar en estados no considerados durante su diseño para propiciar modificaciones en su funcionamiento que afecten a la seguridad e integridad de la información procesada.